IL/PDLテスタ

製品名

IL/PDLテスタ

IL/PDL Tester

型番

CT440-PDL

メーカ

EXFO(yenista Optics)

製品概要

Mux/Demux、フィルタ、スプリッタ、ROADM、WSS等の挿入損失、及びPDLを測定するILテスタです。スペクトルレンジは、1240-1680nmになります。チューナブルレーザと合わせて使用します。SMFタイプのほかにPMFタイプもご用意しています。

特長

• 測定時間: ～100nm/s
• 波長レンジ(SMF): 1260-1360/1440-1640nm(選択)
• 波長分解能: 5-250pm
• 波長精度: +/-5pm

FEATURES

• Measurement Time: ～100nm/s
• Wavelength Range(SMF): 1260-1360/1440-1640nm(Select)
• Wavelength Resolution: 5-250pm
• Wavelength Accuracy: +/-5pm