IL/PDLテスタ
- 製品名
- IL/PDLテスタ
- IL/PDL Tester
- 型番
- CT440-PDL
- メーカ
- EXFO(yenista Optics)
製品概要
Mux/Demux、フィルタ、スプリッタ、ROADM、WSS等の挿入損失、及びPDLを測定するILテスタです。スペクトルレンジは、1240-1680nmになります。チューナブルレーザと合わせて使用します。SMFタイプのほかにPMFタイプもご用意しています。
特長
- 測定時間: ～100nm/s
- 波長レンジ(SMF): 1260-1360/1440-1640nm(選択)
- 波長分解能: 5-250pm
- 波長精度: +/-5pm
FEATURES
- Measurement Time: ～100nm/s
- Wavelength Range(SMF): 1260-1360/1440-1640nm(Select)
- Wavelength Resolution: 5-250pm
- Wavelength Accuracy: +/-5pm